카테고리 보관물: Microscope

FV3000

FV3000

 

The FLUOVIEW FV3000 series is designed to meet some of the most difficult challenges in modern science. Featuring the high sensitivity and speed required for live cell and tissue imaging, the FV3000 enables 2D-6D (x,y,z,t,λ,p) macro to micro imaging of cells, tissues, and small organisms. With an intuitive and adaptable user interface, the FV3000 supports complete workflows from image acquisition to processing and analysis. Particular attention has been paid to the needs of cell biology, cancer research, and stem cell research, and with two new upright configurations, the FV3000 is also poised to meet the needs of neuroscience, electrophysiology, and developmental biology.

High Sensitivity Multi-Channel Imaging

A Fully Spectral System with Sensitivity and Accuracy

The FV3000 series employs Olympus’ TruSpectral detection technology. Based on patented* Volume Phase Hologram (VPH) transmission and an adjustable slit to control light, the spectral detection is highly efficient, enabling users to select the detection wavelength of each individual channel to 2 nm.

Efficient TruSpectral Detection System

The FV3000 is a fully spectral series of confocal microscope. TruSpectral detection delivers improved overall transmission and sensitivity. The high signal-to-noise ratio results in excellent multi-color confocal imaging capabilities.

Enhanced Quantum Efficiency

The GaAsP Photomultiplier Tubes (PMTs) in the FV3000’s high sensitivity detector (HSD) enable users to view samples whose emission is too weak to view with conventional detection methods. The GaAsP PMT unit incorporates two channels with a maximum quantum efficiency of 45%, and Peltier cooling that reduces background noise by 20% for high S/N ratio images under very low excitation light.

Multichannel TruSpectral Detection with Sixteen-Channel Unmixing

TruSpectral technology’s efficient design and software enable spectral detectors to run in multichannel mode for both live and post-processing spectral unmixing with a multichannel lambda mode. The multichannel mode facilitates constant spectral unmixing during live cell experiments, separating complex fluorescence during acquisition. With up to four different dynamic ranges from the four different channels of array, bright and dim spectral signals can be separated by independently adjusting the sensitivity of each detector.

Spectral Unmixing

The deconvolution algorithm enables overlapping spectra to be separated based on the spectral information from lambda stack images. The fluorescence cross-talk between the channels can be eliminated by the unmixing algorithm during both image acquisition and post acquisition processing.

 

Live Spectral Unmixing with TruSpectral Detection and Real-Time Processing

The power of TruSpectral detection plus multichannel mode means live spectral unmixing can be performed during image acquisition. Complex, overlapping spectra can be processed in real time.

Live image before unmixing of CFP (endosomes, blue), mAmetrine (plasma membrane, green), mKO (nucleus, orange) and mKeima (F-actin, purple) during time-lapse imaging.
Image data courtesy of Dr. Kazuhiro Aoki, Dr. Michiyuki Matsuda, Graduate School of Medicine, Kyoto Uni

 

Live blind unmixed image.
Image data courtesy of Dr. Kazuhiro Aoki, Dr. Michiyuki Matsuda, Graduate School of Medicine, Kyoto Un

Live 3D Rendering

See your data unfold in real time with the live 3D image display function of the FV3000 software. 3D images can be constructed during image acquisition and shown as live images.

Fucci induced Spheroid of HT29 cell line
Yuji Mishima, Ph.D., Kiyohiko Hatake M.D., Ph.D. Clinical Chemotherapy, Cancer Chemotherapy Center, Japanese Foundation for Cancer Research.

Macro to Micro Imaging and Super Resolution

Macro to Micro Observation

Finding areas of interest in samples can be challenging. The confocal optical design of the FV3000 series supports macro to micro imaging from 1.25X up to 150X, so users can quickly switch from low magnification overview observation to high-magnification, detailed observation of regions of interest. Users can employ image stitching at both macro and micro levels to generate overview images that show samples in context.

A stitched image of a coronal section (30 μm thickness) from an adult YFP-H mouse cerebrum acquired with 20X objective (UPLSAPO20X).
Image data courtesy of Takako Kogure and Atsushi Miyawaki, Cell Function Dynamics, Brain Science Institute of RIKEN.

Powerful One-Click Macro Analysis with cellSens

Images alone are not enough; with integrated cellSens Count and Measure analysis, the FV3000 Series can optimize images with deconvolution and analyze them with one-click macro functionality for a broad range of morphological measurements.

A spheroid image of a NMuMG cell line expressing Fucci2. Image data courtesy of Atsushi Miyawaki, Cell Function Dynamics, Brain Science Institute of RIKEN.

Olympus’ widely applicable super resolution method requires no special fluorophores and works for a wide range of samples. Ideal for colocalization analysis, the Olympus Super Resolution imaging module can acquire four fluorescent signals either sequentially or simultaneously with a resolution of approximately 120 nm*, nearly doubling the resolution of typical confocal microscopy. The imaging module is easy to use with minimal user training and can be added to any confocal system, making it a truly accessible method for achieving super resolution.
* Subject to objective magnification, numerical aperture, excitation and emission wavelength, and experiment conditions.

Secondary antibody labels against GFP (Alexa Fluor 488, neurons) and SV2 (Alexa Fluor 565, red). Sample courtesy of Dr. Ed Boyden and Dr. Fei Chen, MIT.

0.5 AU Confocal Image
0.5 AU Confocal Image Deconvolved with cellSens Advanced Deconvolution
Olympus Super Resolution Plus cellSens Advanced Deconvolution. Note clear separation of punctate stains with OSR.

Deconvolution

The optional constrained iterative deconvolution function improves the resolution, contrast, and dynamic ranges of confocal images obtained by the FV3000. The deconvolution function can be combined with Olympus Super Resolution (FV-OSR) to improve the z-axis resolution of the deconvolved images.

 

(Left) Original Image, (Right) Deconvolved Image

Cell line: HeLa (human cervical cancer cell line) Immunostaining: Hec1 staining (green, Alexa Fluor 488), α-tubulin staining (red, Alexa Fluor 568),DAPI staining (blue) Mitotic spindle and kinetochores are stained with anti-α-tubulin (red) and anti-Hec1 (green) antibodies, respectively. Chromosomes interact with microtubules of the mitotic spindle via kinetochores (protein structures assembled on the centromere region of chromosomes.) Image data courtesy of Masanori Ikeda and Kozo Tanaka, Department of Molecular Oncology, Institute of Development, Aging and Cancer, Tohoku University.

COS7 cells, triple staining, DAPI (cyan), Actin Bodipy-FL(green), Tubulin AF568 (red) Image data courtesy of J. Doehner and U. Ziegler, Center for Image Analysis and Microscopy, University of Zurich

Image Analysis

The FV3000 incorporates various optional analysis functions to complete the workflow from image acquisition through data analysis. The Count and Measure solution enables the measurement of the number, size, luminosity, and morphology of the segments. Colocalization enables the analysis of overlapping fluorescent spectra.

 

Increase Productivity with High Speed Imaging

 

Galvanometer and Hybrid Galvo/Resonant Scanner

Users have their choice of two different types of scan units: galvanometer only with the FV3000 or hybrid galvanometer/resonant with the FV3000RS. The hybrid scan unit has a galvanometer scanner for high-precision scanning, as well as a resonant scanner that is ideal for high-speed imaging. With the galvanometer scanner and Olympus super resolution technology (FV-OSR), users can obtain resolutions down to 120nm with a high signal-to-noise ratio. The galvanometer scanner also features flexible scanning options, including precise tornado scanning as well as multipoint stimulation with 100ms switching time. The galvanometer scanner can image up to 16 frames per second. By switching to the resonant scanner, users can capture 30 frames per second with a full field of view at 512 x 512 pixels. By clipping down to 512 x 32 pixels, the resonant scanner can capture up to 438 frames per second to capture critical live physiological events such as calcium ion flux.

No Compromise between Speed and Field of View

Many high-speed scanning methods restrict the field of view, limiting their usefulness for examining large areas with multiple cells. The FV3000 series’ resonant scanner maintains a full 1X field of view, even at a video rate of 30 frames per second. B clipping the Y axis, additional speeds up to 438 frames per second can be achieved.

Most resonant scanners force a trade-off between speed and field of view. FLUOVIEW systems are optimized to maintain the field of view with even signal intensity so dynamic samples (e.g. calcium imaging) can be seen in the broad context of their cells and tissues.
The image above shows examples of the clipped fields of view required in other resonant scanning systems.

 

https://static2.olympus-lifescience.com/data/Video/Library/511707659_fv3000_Bloodflow_480.mp4?rev=419A

Platelets bound to a thrombosis in the blood vessel of a mouse. Images taken at 30 fps in full frame by resonant scanner with 2 CH GaAsP PMTs.

Image data courtesy of Dr. Takuya Hiratsuka, Dr. Michiyuki Matsuda, Graduate School of Biostudies, Kyoto University.

A431 cells fixed with methanol labeled with Abcam Anti-ERK1 + ERK2 antibody (Alexa Fluor 488) ab208564 and Anti-alpha Tubulin antibody (Alexa Fluor 594) ab195889 and DAPI. Sample courtesy of Abcam.

Optimized for Live Cell Imaging

Resonant scanning greatly reduces photobleaching and phototoxicity compared to standard galvanometer scans by preventing the excitation of fluorophores into triplet states that create reactive oxygen species. These features make live cell experiments more robust and reliable. The FV3000 series has complete laser intensity control from low to high range, enabling the system to use the minimum required amount of laser power on samples. The optional laser power monitor provides consistent laser power during long-term time-lapse imaging across multiple days.

Ratio Imaging and Intensity Modulated Display (IMD)

The FV3000’s ratio imaging analysis function includes an Intensity Modulated Display (IMD) function in the software that displays quantitative fluorescence ratio changes during both standard and high-speed acquisitions. This function is particularly useful for calcium and FRET imaging where a pure ratio display provides poor contrast in background areas.


sGFP1-mito reveals heterogeneity in mitochondrial thermogenesis in HeLa cells. The images of ratio (ex 405 nm/ex 488 nm) in tsGFP1-mito-expressing cells before and after CCCP treatment at 37 °C. Scale bars indicate 10 μm (whole image) and 3 μm (inset). Image data courtesy of Shigeki Kiyonaka Ph,D, Yasuo Mori Ph,D Molecular Biology Field, Department of Synthetic Chemistry and Biological Chemistry, Kyoto University.
(Left) CFP, (Right) YFP FRET
(Left) Raw CFP/YFP ratio, (Right) IMD of CFP/YFP ratio

Cardiomyoctye Image data courtesy of Yusuke Niino and Atsushi Miyawaki, Cell Function Dynamics, Brain Science Institute of RIKEN.

Rolling Average Processing

High-speed scanning at low laser power to avoid phototoxicity often decreases the signal-to-noise ratio. With rolling average post-processing, users have the flexibility to adjust high-speed time-lapse images while maintaining the time scale and keeping the original data.

(Left) Raw 30 fps data acquired at low laser power (0.05%, 488 nm). (Right) Rolling average processing (10 frame) on 30 fps data acquired at low laser power.

Object Tracking

In time-lapse imaging, moving objects can be automatically detected, tracked, and analyzed. cellSens software’s tracking function provides a powerful and intuitive tool to quantify dynamic processes such as cell movement and division.

Bioluminescence of RA-induced differentiating cells at day 12 from Bmal1:luc stably transfected ES cells
Image data courtesy of: Kazuhiro Yagita, M.D. Ph.D. Department of Physiology and Systems Bioscience, Kyoto Prefectural University of Medicine
Reference: Proc Natl Acad Sci U S A. 107(8): 3846–3851(2010)

https://static1.olympus-lifescience.com/data/Video/Library/cellSens_tracking-web2_406.mp4?rev=3464

Accurate Time-lapse Imaging

Maintain Focus with Z-Drift Compensation (ZDC) System

The IX3-ZDC2 Z-drift compensator uses minimally-phototoxic infrared light (laser class 1) to identify the location of the sample plane. One-shot autofocus (AF) mode enables several focus positions to be set as desired for deeper samples, enabling efficient Z-stack acquisitions in multiposition experiments. The continuous AF mode keeps the desired plane of observation precisely in focus, avoiding focus drift due to temperature changes or the addition of reagents, making it ideal for measurements that require more stringent focusing. Furthermore, the increased optical offset enables continuous AF with plastic vessels or with dry objectives. The Z-drift compensator is also compatible with silicone objectives (in AF mode).

Stage Control for Multi-Area Time-lapse, Microplate, and Stitching

Multi-area time-lapse and stitching provide robust and accurate time-lapse data, and enable users to generate detailed overview images to see their data in context. The well navigator function provides sophisticated, intuitive controls for a wide range of cell culture vessels and custom plates.

Stable Time-Lapse Imaging with the IX83 Microscope

A Z-drive guide installed near the revolving nosepiece combines high thermal rigidity with the stability of a wraparound structure to significantly reduce the impact of heat and vibration and improve the quality of time-lapse imaging.

Hard Disk Recording

The microscope comes equipped with a hard-disk drive (HDD) recording function. The images are stored automatically in the HDD. Large volumes of data, such as those obtained from long-term time-lapse imaging, can be easily collected.

High Contrast under Bright Conditions

The umbra unit is designed specifically for fluorescence observation under bright room conditions. It efficiently blocks out room light, enhances the contrast of fluorescence, and enables clear fluorescence observation without the need for a dark room.

Reduce Complexity with the Sequence Manager

With the Sequence Manager software module, complex protocols are handled with ease and accurate timing. Multi-day time-lapse experiments are controlled with microsecond scan accuracy and millisecond sequence execution accuracy. Various protocols, such as time-lapse with different time intervals, switching between high and low magnification, and photo-stimulation between imaging by FRAP or FRET (acceptor photobleaching), can be performed.

Life Science Analysis

The cellSens Life Science Analysis module enables analysis of images from FRAP or FRET experiments. In FRAP, τ/2 and the Mobile/ Immobile fraction can be estimated by fitting the curve of luminosity change caused by fluorescence recovery after bleaching. FRET enables the measurement of FRET efficiency by acceptor photobleaching, ratio imaging, and sensitized emission.

Superior Objectives

Silicone Immersion Objectives for Live Cell Imaging Deliver High-Resolution Observation at Depth

Olympus offers four high NA silicone immersion objectives that deliver excellent performance for live cell imaging. The refractive index of silicone oil (ne≈1.40) is close to that of living tissue (ne≈1.38), enabling high-resolution observations deep inside living tissue with minimal spherical aberration caused by refractive index mismatch. Silicone oil does not dry out or harden, so there is never a need to refill oil, making it ideal for extended time-lapse observations.

Water immersion objective (Left), Silicone immersion objective (Right)

In deep tissue observation, image quality depends on keeping the refractive index of the sample and immersion medium as close to each other as possible. When working with a silicone immersion objective, the difference between the refractive index of the samples and silicone oil is minimal, thus enabling brighter fluorescence images with higher resolution for deep tissue observation.

UPLSAPO30XS: For a broader view and greater depth
Magnification: 30X, NA: 1.05 (silicone oil immersion), W.D.: 0.8 mm,
cover glass thickness: 0.13 – 0.19 mm, operating temperature: 23 – 37 °C

UPLSAPO40XS : For a good balance between field of view and resolution
Magnification: 40X, NA: 1.25 (silicone oil immersion), W.D.: 0.3 mm,
cover glass thickness: 0.13 – 0.19 mm, operating temperature: 23 – 37 °C

UPLSAPO60XS2: For 3D observations with superior resolution
Magnification: 60X, NA: 1.30 (silicone oil immersion), W.D.: 0.3 mm,
cover glass thickness: 0.15 – 0.19 mm, operating temperature: 23 – 37 °C

UPLSAPO100XS: For greater brightness at depth in closely defined regions
Magnification: 100X, NA: 1.35 (silicone oil immersion), W.D.: 0.2 mm, cover glass thickness: 0.13 – 0.19 mm, operating temperature: 23 – 37 °C

PLAPON60XOSC2: Enhance the Reliability of Colocalization Analysis with a Low Chromatic Aberration Objective

This oil immersion objective minimizes lateral and axial chromatic aberration in the 405–650 nm spectrum. Colocalization images are acquired reliably and images are measured with superior positional accuracy. The objective also compensates for chromatic aberration through near infrared up to 850 nm, making it the ideal choice for quantitative imaging.

Low Chromatic Aberration Objective
Magnification: 60X NA: 1.4 (oil immersion)
W.D.: 0.12 mm
Chromatic aberration compensation range: 405 – 650 nm
Optical data provided for each objective.

Performance Comparison of the PLAPON60XOSC2 and the UPLSAPO60XO

Reduce Spherical Aberration

The correction collar adjusts the lens position of objectives to correct the spherical aberration caused by refractive index mismatch, resulting in the improvement of image quality, such as resolution, brightness and contrast. The correction collar is especially necessary for objectives with high NA when they are used for super resolution imaging, because they are greatly affected by spherical aberration. The remote correction collar unit is useful for easy adjustment and improvement of the image quality, and operable on all UIS2 objectives which have a correction collar.

Choose the Frame That Suits Your Application

Inverted microscope

  • Suitable for observing cells cultured in a vessel.
  • The Z-drift compensator enables time-lapse observations that remain in focus.
  • Maintain the environmental conditions of cultured cells by adding a stage-top or full enclosure incubator.

Upright microscope (configured for imaging)

  • Optimized for fixed tissue and glass slide specimens.
  • Motorized nosepiece precisely maintains focus position.
  • Motorized 7-position nosepiece and condenser enable automated transitions from low to high magnification.

Upright microscope (configured for electrophysiology)

  • Ample space around the objectives enables patch-clamp devices to be installed.
  • Add additional space by lowering the stage position for experiments that require large sample handling.
  • Swing and slider nosepieces are available so objectives can be easily changed without interfering with the patch-clamp set-up.

Intuitive Software

Customizable and saveable layouts make it easy to tailor the interface to your workflow and experiment needs, from basic to complex.

 

Layout

Start by selecting your preferred display with specific tools for basic to complex acquisition.

Acquisition Condition

Reload settings that were ideal for your last experiment to provide consistency.

Acquisition

Activate basic to complex acquisitions with live ratio, intensity modulated display, quantitative region of interest (ROI) graphing or spectral unmixing display, and data backup for added security.

Viewer

Review data as it is generated. Generate 3D and 4D views and animations to explore and share data in depth.

Analysis

Extract data from images using online or offline processing. Analytical tools include Olympus super resolution technology (FV-OSR) and powerful cellSens software with features such as deconvolution, filtering, count and measure, and one-click macros.

 

OLS4500

OLS4500

 

LEXT OLS4500은 광학 현미경, 레이저 현미경(LSM), 프로브 현미경(SPM)을 한 대에 결합한 복합 현미경입니다. 관찰 배율은 수십 배에서 수백만 배까지 광범위한 영역을 커버하고 관찰 포인트를 잃는 일 없이 원활하게 밀리미터부터 나노미터까지 관찰 및 측정이 가능합니다.

 

OLS4500이 실현하는 새로운 솔루션

 

한번 잡은 타겟은 절대 놓치지 않는다.

전동 리볼버로 배율, 관찰 방법 전환

저배율에서 고배율 관찰이 가능한 4 개의 대물 렌즈와 SPM 장치를 전동 리볼버에 장착하여 배율과 관찰 방법을 원활하게 전환 할 수 있어 관찰 대상을 잃을 일이 없이 바로 나노미터까지 검색 할 수 있는 현미경입니다.

광 범위의 배율과 다양한 관찰 방법으로 관찰 대상을 쉽게 발견 할 수 있습니다.

첨단 광학 기술이 뒷받침된 다양한 관찰 방법과 저배율부터 고배율까지 관찰 대상을 쉽게 찾을 수 있습니다. 또한 광학 현미경으로는 보이지 않는 관찰 대상을 레이저 현미경으로 찾을 수 있습니다. 레이저 미분 간섭 (DIC) 관찰에서는 나노 수준의 미세 요철의 라이브 관찰도 가능합니다.

샘플 세팅부터 이미지 획득까지, 작업시간을 획기적으로 단축

샘플 세팅 이후의 모든 작업을 1대의 장치로 수행 할 수 있습니다.
관찰대상을 신속, 정확하게 SPM 현미경 모드로 가져올 수 있기 때문에, 한 번의 스캐닝 영역 내에서 원하는 SPM 이미지를 얻을 수 있습니다.

일체형이기 때문에 샘플을 옮길 필요 없이 배율 및 관찰 방법을 교체하여 하나의 현미경으로 유연하게 대응 가능합니다.

OLS4500은 광학 현미경, 레이저 현미경, 프로브 현미경의 일체형이기 때문에 샘플을 옮길 필요 없이 세 가지의 현미경을 자유 자재로 전환하며 관찰 및 평가가 가능합니다. 각각이 가진 뛰어난 기능으로 효율적인 최적의 결과 값을 얻을 수 있습니다.

 

OLS4500에서 가능한 원할한 관찰과 측정

 

관심 영역을 바로 찾는 것이 가능

광학 현미경의 다양한 관찰법을 이용하여 빠르게 관찰 대상을 찾아낼 수 있습니다.

광원으로 백색 LED를 사용하기 때문에, 색 재현성이 뛰어난 고해상도 컬러 이미지를 볼 수 있습니다. 4개의 대물 렌즈로 저배율에서 고배율까지 관찰이 가능합니다. OLS4500은 광학 현미경의 기능을 최대한 활용하여 가장 많이 사용되는 명시야관찰 (BF)을 비롯해 미세한 요철에 컨트라스트를 넣어 입체적으로 시각화하는 미분간섭관찰 (DIC), 샘플의 편광특성이 색으로 표현되는 간이 편광 관찰이 가능합니다. 또한 노출시간을 바꾸어 여러장의 이미지를 촬영, 합성 하는 것으로 밸런스가 좋은 밝기와 향상된 텍스처의 이미지를 보여주는 HDR기능(High Dynamic Range)을 이용 할 수 있습니다. 다양한 관찰 방법으로 신속하게 관심 영역을 찾을 수 있습니다.

BF 명시야

가장 널리 사용되는 관찰 방법입니다.
자연스러운 이미지와 사실적인 칼라 재현. 컨트라스트가 있는 샘플의 관찰에 적합합니다.

 

 

 

DIC
Differential Interference Contrast

명시야에서는 보이지 않는 샘플의 미세한 단차를 시각화합니다. 금속조직, 하드디스크 및 웨이퍼 연마 표면 같은 거울위의 스크레치나 이물질 관찰에 적합합니다.

 

 

 

간이편광

편광 (특정 진동 방향을 갖는 빛)을 조사하여 샘플의 편광 특성 (굴절률 등)을 시각화합니다. 금속 조직, 무기물, 반도체 재료 등의 관찰에 적합합니다.

 

 

 

HDR High Dynamic Range

노출 시간을 바꾸어 여러 장의 사진을 찍어 합성하는 것으로, 밝은 부분, 어두운 부분을 균형있게 볼 수 있습니다. 또한 텍스처 (표면 상태)를 강조함으로써 세밀한 관찰이 가능합니다.

 

 

 

LSM은 광학 현미경으로는 보이지 않는 것을 가능하게 합니다.

405nm 짧은 파장의 레이저 광원과 높은 N.A의 전용 대물렌즈를 사용하여, 높은 평면 분해능을 가집니다. 광학 현미경으로는 보이지 않았던 관찰대상을 선명한 이미지로 관찰하는 것이 가능합니다. 레이저 미분간섭(DIC)은 나노미터의 마이크로영역 표면의 실시간 관찰도 가능합니다.

【접근법】관심 영역에 정확하고 빠르게 접근하여 SPM으로 관찰

관찰 대상을 놓치지 않고 원할하게 관찰 가능

저배율에서 고배율 관찰이 가능한 4개의 대물 렌즈와 소형 SPM 장치를 전동 리볼버에 장착. 광학현미경 또는 레이저 현미경 50배, 100배의 실시간 관찰에서는 SPM 스캔범위가 시야의 중심에 표시되므로 관찰 포인트를 이 위치에 맞춘 후, 프로브현미경으로 전환 하는 것만으로 관찰대상에 정확하게 접근 할 수 있습니다. 따라서 원하는 이미지를 한번의 SPM 스캔으로 획득할 수 있고, 작업의 효율성과 캔틸레버의 소모를 줄일 수 있습니다.

SPM 관찰로 쉽게 전환 하기 위한 안내 기능

캔틸레버 설치, 스캔 범위 설정 등 프로브 현미경으로 관찰하는 데 필요한 준비는 안내 화면에 따라 수행 할 수 있어, 경험이 적은 사람이라도 안심하고 작업을 할 수 있습니다.

 

 

【나노미터 접근 측정】간단한 조작으로 빠른 측정이 가능

노이즈 감소를 위해 새롭게 개발된 SPM 헤드

새롭게 개발된 소형 SPM 해드

OLS4500에서는 전동 리볼버에 장착하는 대물 렌즈 형 SPM 헤드를 사용. 대물 렌즈와 캔틸레버 끝을 동축, 동초점으로 배치하여, SPM 관찰로 전환 하더라도 관찰 포인트를 잃지 않습니다. 또한 새로 개발한 소형 SPM 헤드는 강성을 높여 기존제품보다 이미지의 노이즈를 줄이고 응답성을 향상 시켰습니다.

네비게이터 기능으로 SPM 이미지를 자유자재로 확대

네비게이터 기능은 프로브 현미경에서 얻은 이미지의 필요한 부분을 더 크게 확대하여 관찰 할 수 있습니다. 이미지에서 확대 범위를 커서로 설정하여 스캔을 시작하는 것 만으로 원하는 SPM 이미지를 얻을 수 있습니다. 스캔 범위는 자유롭게 설정할 수 있으므로 관찰 · 측정 효율성이 크게 향상됩니다.

네비게이터 기능 10μmx10μm의 이미지에서 3.5μmx3.5μm의 범위를 확대

다양한 요구 사항을 충족하는 분석 기능

곡률 측정 (하드 디스크 핏)

각종 측정 모드에서 얻은 이미지는 목적에 따른 분석이 가능하며, 측정 결과는 CSV 형식으로 출력 할 수 있습니다. OLS4500는 다음의 분석 기능이 있습니다.

  • 단면 형상 분석 (곡률 측정, 협각 측정)
  • 거칠기 분석
  • 형태 분석 (면적, 표면적, 체적, 높이, 히스토그램 값, 베어링 비율 값)
  • 평균 단차 측정 (라인 지정, 크기 지정)
  • 입자 분석 (옵션)

 

가이드 화면으로 따라하기 쉬운 6개의 SPM 측정 모드

 

접촉 모드

캔틸레버와 샘플 사이에서 작동하는 반발력이 일정하게 되도록 제어하면서 캔틸레버를 정적으로 스캔하며 샘플의 높이를 이미지화 시키다. 힘 곡선 측정에도 사용 할 수 있습니다.

다이나믹 모드

캔틸레버를 공진 주파수 근처에서 진동시켜 진폭이 일정하게 되도록 Z축 방향의 거리를 제어하는 것으로, 샘플의 높이를 이미지화 시킨다. 특히 고분자 화합물 같은 부드러운 표면 샘플 및 점착성이 있는 샘플에 적합합니다.

위상 모드

다이나믹 모드에서 스캐닝하는 동안 캔틸레버 진동의 위상 지연을 감지합니다. 샘플 표면의 물리적 특성의 차이를 이미지화 할 수 있습니다.

전류 모드

샘플에 바이어스 전압을 인가하여 캔틸레버와 샘플 사이에 흐르는 전류를 감지하여 이미지화시킵니다. 또한 I / V 측정도 가능합니다.

표면 전위 모드 (KFM)

전도성 캔틸레버를 이용하여 교류 전압을 인가하여 캔틸레버와 샘플 표면 사이에 작용하는 정전기의 힘을 감지하고 샘플 표면의 전위를 이미지화 시킵니다. KFM (Kelvin Force Microscope)라고도합니다.

자력 모드 (MFM)

자력을 갖는 캔틸레버를 위상 모드에서 검사하여, 진동 하는 캔틸레버의 위상 지연을 감지하고 샘플 표면의 자기 정보를 이미지화 시킵니다. MFM (Magnetic Force Microscope)라고도 합니다.

 

레이저 현미경으로 다양한 샘플을 유연하게 대응

85°이상의 경사도 이미지

OLS4500의 높은 해상도와 405nm의 광학시스템에 맞게 설계된 전용렌즈의 채택으로 기존에 측정 불가능했던 급경사면의 이미지를 손쉽게 취득할 수 있습니다.

높은 분해능을 가진 마이크로 프로파일 측정

405nm의 단파장 레이저 빛과 높은 N.A의 전용 대물 렌즈 사용으로 최대 0.12μm의 평면 분해능을 실현. 샘플 표면의 서브 마이크론 측정이 가능합니다. 또한 고정밀 리니어 스케일과 올림푸스 만의 밝기 감지 기술은 서브 마이크론에서 수백 마이크론의 높이 차이를 감지 할 수 있습니다. 또한 레이저 현미경에 의한 측정은 측정기 2 가지 지표인 ‘정확도'(참값에 근접)과 ‘반복성'(편차의 작음) 모두의 성능을 보장하고 있습니다.

광범위의 영역에서 임의의 캡처 이미지 지정

고배율의 이미지에서는 시야범위가 좁아지지만, 스티칭기능으로 최대625장까지 이미지를 붙여 높은 분해능과 넓은 시야범위로 이미지 데이터를 얻을 수 있습니다. 또한 넓은 시야 이미지로 3D 디스플레이 및 3D 측정이 가능합니다.

 

마이크로 영역의 표면 거칠기를 비접촉으로 측정

기존의 선 거칠기 측정에서 보다 정보량이 많은 평면 거칠기 측정이 가능

최근 산업 제품의 크기와 무게의 지속적인 감소로, 이를 구성하는 부품도 소형화 되고 있습니다.  이러한 경향은 표면 거칠기 측정뿐만 아니라, 형상 측정에서도 중요성이 증가하고 있습니다. 이러한 시장의 요구를 반영하여 ISO에서 규정하는 3D 표면 질감 측정 장치 (ISO 25178-6)의 목록에 LSM과 AFM을 추가했습니다. 이 비접촉 표면 거칠기 측정은 (삭제) 기존의 접촉 표면 거칠기 측정기와 같은 공식적인 평가 기준으로 인정된다는 것을 의미합니다. OLS4500은 ISO에 적합한 거칠기 파라미터를 제공합니다.

표면 거칠기 측정의 거칠기 분포와 특징을 자세히 파악

비접촉 표면 거칠기 측정은 평면 거칠기뿐만 아니라 선 거칠기를 얻을 수 있습니다.
표면 거칠기 측정은 샘플 표면에서 설정 한 영역의 분포와 특징을 파악할 수 있으며, 3D 이미지와 대조 한 평가가 가능합니다. OLS4500은 LSM 또는 SPM 기능을 사용하여 표면 거칠기를 측정 할 수 있습니다. 이 두 기능은 샘플 속성 혹은 관찰 목적에 따라 구분하여 사용할 수 있습니다.

(좌)  레이저 현미경에 의한 표면 거칠기 (105μm x 105μm)본딩 패드
(우) 프로브 현미경에 의한 표면 거칠기 (10μm x 10μm)

LEXT OLS4500 파라미터

파라미터 호환성

OLS4100은 접촉식 표면 거칠기 측정기와 같은 거칠기 (2 차원) 파라미터를 보유하고 있습니다. 접촉식 표면 거칠기 측정기와 같은 조작성, 호환 측정 결과를 얻을 수 있습니다.

차세대 파라미터에 대응

OLS4500은 ISO25178 규격 거칠기 (3 차원) 파라미터를 보유하고 있습니다. 평면 영역에서 평가를 실시하는 것으로, 높은 신뢰성이 있는 분석이 가능합니다.

 

OLS4500의 현미경 기술

광학 현미경의 원리와 특징

명시야 관찰은 색상 정보를 제공 합니다. 잉크젯 점.

가시 광선 영역 (400-800 nm의 파장)을 사용하여 광학 현미경 이미지를 1000배 정도의 배율로 관찰 할 수 있습니다.  광학 현미경의 특징은 샘플이 가지는 색을 그대로 관찰 할 수 있으며 관찰 방법을 바꾸는 것으로 요철을 강조하거나 물질의 특성 (편광 특성)을 이용한 관찰을 할 수 있다는 것 입니다. OLS4500에서는 다음 관찰 방법이 가능합니다.

  • 명시야 관찰
    가장 일반적인 관찰법. 샘플 표면으로 부터 빛을 받아들여 이미지를 형성
  • 미분간섭 (DIC) 관찰
    샘플 표면의 미세한 요철에 컨트라스트를 강화시켜 입체적으로 시각화
  • 간이 편광 관찰
    편광(특정 진동 방향을 갖는 빛) 빛을 사용하여 샘플의 편광 속성을 시각화

레이저 스캐닝 현미경의 원리와 특징

마이크로 영역 때의 관찰과 측정이 가능한 LSM(Laser Scanning Microscope)

레이저 현미경의 고해상도 XY스캐닝(이미지)

광학 현미경의 평면 분해능은 사용하는 빛의 파장에 크게 의존합니다. 단파장의 레이저 빛을 사용하는 레이저 현미경은 가시 광선을 사용하는 기존의 현미경에 비해 평면 분해능이 뛰어납니다. OLS4500는 405nm의 단파장 반도체 레이저를 사용하며, 높은 개구 수 (NA) 전용 대물 렌즈, 공 초점 광학계를 결합하여 최대 0.12μm의 평면 분해능을 실현하고 있습니다. 또한 올림푸스 만의 2 차원 스캐너에 의한 XY 스캐닝 기능에서 최대 4096 픽셀 x 4096 픽셀의 고해상도 스캔을 가능하게 하고 있습니다.

뛰어난 높이 측정 능력

단차 측정

레이저 현미경은 단파장 반도체 레이저와 공 초점 광학계를 사용하여 초점이 맞는 반사광을 감지하고 초점이 맞지 않는 부분의 반사광은 제외됩니다. 정밀 리니어 스케일과 결합하여 정확한 3 차원 측정이 가능합니다.

 

 

프로브 현미경의 원리와 특징

나노 레벨의 세계를 시각화 하는 프로브 현미경(SPM : Scanning Probe Microscope)

프로브 현미경의 원리

끝 곡률이 10nm 정도의 미세한 탐침 (프로브)을 샘플 표면에 접근 시켜 샘플 사이에 발생하는 역학적 · 전기적 상호 작용을 감지하면서 스캐닝하여 3 차원 적으로 관찰하는 현미경을 총칭하여 프로브 현미경 (SPM)라고 합니다. 대표적인 것으로 탐침과 샘플 표면 사이에 작용하는 인력과 척력을 감지하여 스캔 이미지를 얻는 원자 힘 현미경 (AFM : Atomic Force Microscope)이 있습니다. 나노 수준에서 관찰하는 것으로, 샘플의 모습을 세밀하게 파악할 수 있습니다.

캔틸레버 스캐닝으로 나노를 관찰

SPM Sensor의 광학 경로

OLS4500은 끝에 탐침 (프로브)을 배치 한 캔틸레버의 미세한 굴곡 량 (변위)를 고감도로 검출하는 광 지렛대 방식을 사용. 레이저 빛을 캔틸레버 후면에 반사시켜 광 검출기의 일정한 위치에 맞게 압전 소자에서 Z축으로 구동시켜 미세한 Z축 방향의 변위를 정확하게 읽습니다.

다양한 모드에서 표면 형상과 물리적 이미지화

폴리머 필름

프로브 현미경의 다양한 모드는 샘플 표면 형상 관찰, 측정, 또한 물리적 특성의 분석이 가능합니다. OLS4500는 다음 모드를 지원합니다.

 

 

  • 접촉 모드: 표면 형상을 이미지화 (딱딱한 표면)
  • 다이나믹 모드: 표면 형상을 이미지화 (부드러운 표면, 점성이있는 표면)
  • 위상 모드: 샘플 표면의 물리적 특성의 차이를 이미지화
  • 전류 모드*: 프로브와 샘플 사이에 흐르는 전류를 감지하여 이미지화
  • 표면 전위 모드 (KFM)*: 샘플 표면의 전위를 이미지화
  • 자기력 모드 (MFM)*: 샘플 표면의 자기력 정보를 이미지화
    * Optional.

캔틸레버 : 고정밀, 고품질 이미지의 핵심

탐침 (프로브)은 길이 100μm에서 200μm 정도의 얇은 판 모양 캔틸레버 끝으로 형성되어 있습니다. 캔틸레버는 샘플에 따라 용수철 상수, 공진 주파수를 선택합니다. 스캔 반복에 따라 탐침 (프로브)은 마모하기 때문에 필요에 따라 혹은 정기적으로 캔틸레버 팁을 교체합니다.

 

OLS5000

OLS5000

 

 

The OLS5000 laser confocal microscope precisely measures shape and surface roughness at the submicron level. Data acquisition that’s four times faster than our previous model delivers a significant boost to productivity.

 

 

 

 

 

 

High-resolution, precise imaging

With the capability to make accurate 3D measurements on a wide range of sample types, the system delivers reliable data for quality assurance and process control.

Excellent lateral resolution

The 405 nm violet laser and dedicated high-NA objectives make it possible to capture fine patterns and defects that conventional optical microscopes, white-light interferometers, or red laser-based microscopes are unable to detect.

 

Uniform measurement values

Dedicated LEXT objectives can accurately measure peripheral areas that would otherwise get distorted.

Conventional objectives

LEXT objectives

Newly developed MEMS Scanner

New MEMS scanner performs accurate X-Y scanning with low scan trace distortion and minimal optical aberrations.

 

4K scan technology

The 4K scan technology scans 4,096 pixels — four times more than our previous model — in the X-axis direction.
The OLS5000 microscope can detect slopes that are almost vertical as well as very low steps without image correction.

 

Capturing the true shape

Because conventional laser microscopes use standard image processing techniques such as smoothing to eliminate noise, they sometimes lose accurately measured fine height irregularities along with the noise.
The OLS5000 microscope employs Olympus’ Smart Judge algorithm to automatically detect only reliable data, facilitating accurate measurements without losing fine height irregularity data.

 

Other high-resolution measurement technologies

  • PEAK algorithm
  • Dual confocal system
  • Sq noise (measuring noise) guarantee
  • Accuracy and repeatability are guaranteed
  • Hybrid matching algorithm
  • Hybrid dampening mechanism
  • HDR scan

 

GX53

GX53

 

Quickly Analyze Thick, Large Sample Materials

Designed for use in the steel, automotive, electronics, and other manufacturing industries, the GX53 microscope delivers crisp images that can be difficult to capture using conventional microscopy observation methods. When combined with OLYMPUS Stream image analysis software, the microscope streamlines the inspection process from observation to image analysis and reporting.

 

 

Fast Inspections, Advanced Functionality

Quickly observe, measure, and analyze metallurgical structures.

Advanced Analysis Tools

1. Combined observation methods produce exceptional images

2. Easily create panoramic images

3. Create all-in-focus images

4. Capture both bright and dark areas

https://static5.olympus-ims.com/data/VideoLibrary/Videos/20171016_1_Observation_EN(2)_210.mp4?rev=A13A

 

Optimized for Material Science

1. Software designed for materials science

2. Metallurgical analysis that complies with industrial standards

https://static5.olympus-ims.com/data/VideoLibrary/Videos/20171017_2_Analysis_EN(2)_210.mp4?rev=F00D

Userfriendly

Even novice operators can comfortably make observations, analyze results, and create reports.

1. Easily restore microscope settings

2. User guidance helps simplify advanced analysis

3. Efficient report generation

https://static3.olympus-ims.com/data/VideoLibrary/Videos/20171017_3_Sharing_EN(2)_210.mp4?rev=6F6A

Advanced Imaging Technology

Our proven optics and imaging technology deliver clear images and reliable results.

1. Reliable optical performance: wavefront aberration control

2. Clear images: image shading correction

3. Consistent color temperature: high-intensity white LED illumination

4. Precise measurements: auto calibration

 

Modular

Choose the components you need for your application.

1. Build your system your way: fully customizable system with a variety of optional components

 

 

 

SYBR Green I

Spectrum Chart

SYBR Green I Spectrum
Excitation () Emission ()
498 522

Recommended Filter Set

  • 일반 형광 Lighting source 사용시

Filter Model No. Excitation filter (㎚) Dichroic mirror (㎚) Emission filter (㎚) Remarks
JNO-B(B) 480/30
(465~495)
505 (LP) 535/40
(515~555)
Medium Excitation band,
Bandpass Emission
49002 470/40
(450~490)
495 (LP) 525/50
(500~550)
Wide Excitation band,
Bandpass Emission
49011 480/40
(460~500)
510 (LP) 535/50
(510~560)
Wide Excitation band,
Bandpass Emission

 

  • 레이저 Lighting source -> 문의 주시기 바랍니다.

 

 

NBD X/MeOH

Spectrum Chart

NBD X/MeOH Spectrum
Excitation () Emission ()
467 538

 

Recommended Filter

  • 일반 형광 Lighting source 사용시

Filter Model No. Excitation filter (㎚) Dichroic mirror (㎚) Emission filter (㎚) Remarks
19008 450/50
(425~475)
485 (LP) 495 (LP) Wide Excitation band,
Longpass Emission
49011 480/40
(460~500)
510 (LP) 535/50
(510~560)
Wide Excitation band,
Bandpass Emission

 

  • 레이저 Lighting source 사용시 -> 문의 주시기 바랍니다.

 

 

mKO

Spectrum Chart

mKO Spectrum
Excitation () Emission ()
460 650

 

Recommended Filter Set

  • 일반 형광 Lighting source 사용시

Filter Model No. Excitation filter (㎚) Dichroic mirror (㎚) Emission filter (㎚) Remarks
49010 546/10
(541~551)
560 (LP) 585/40
(565~605)
Narrow Excitation band,
Bandpass Emission
49014 530/30
(515~545)
550 (LP) 575/40
(555~595)
Medium Excitation band,
Bandpass Emission

 

  • 레이저 Lighting source 사용시

Filter Model No. Excitation filter (㎚) Dichroic mirror (㎚) Emission filter (㎚) Remarks
49906 514/10
(509~519)
514 (LP) 570/50
(545~595)
For use with laser between 511~517

Narrow Excitation band,
Bandpass Emission

49907 532/10
(527~537)
532 (LP) 575/50
(550~600)
For use with laser between 529~535

Narrow Excitation band,
Bandpass Emission

 

 

Killer Red

Spectrum Chart

Killer Red Spectrum
Excitation () Emission ()
585 611

 

Recommended Filter set

  • 일반 형광 Lighting source 사용시

Filter Model No. Excitation filter (㎚) Dichroic mirror (㎚) Emission filter (㎚) Remarks
JNO-R1(B) 560/40
(540~580)
600 (LP) 635/60
(605~665)
Wide Excitation band,
Bandpass Emission
49008 560/40
(540~580)
600 (LP) 630/75
(592.5~667.5)
Wide Excitation band,
Bandpass Emission
49306 580/25
(567.5~592.5)
600 (LP) 625/30
(610~640)
Narrow Excitation band,
Bandpass Emission

 

  • 레이저 Lighting source 사용시

Filter Model No. Excitation filter (㎚) Dichroic mirror (㎚) Emission filter (㎚) Remarks
49910 561/10
(556~565)
561 (LP) 630/70
(595~665)
For use with laser between 557~563

Narrow Excitation band,
Bandpass Emission

49911 594/10
(589~599)
594 (LP) 645/75
(607.5~682.5)
For use with laser between 591~596

Narrow Excitation band,
Bandpass Emission

 

 

JOE

Spectrum Chart

JOE Spectrum
Excitation () Emission ()
520 548

 

Recommended Filter Set

  • 일반 형광 Lighting source 사용시

Filter Model No. Excitation filter (㎚) Dichroic mirror (㎚) Emission filter (㎚) Remarks
49023 480/40
(460~500)
510 (LP) 535/50
(510~560)
Wide Excitation band,
Bandpass Emission

 

  • 레이저 Lighting source  사용시

Filter Model No. Excitation filter (㎚) Dichroic mirror (㎚) Emission filter (㎚) Remarks
49905 514/10
(509~519)
514 (LP) 545/40
(525~565)
For use with laser between 511~517

Narrow Excitation band,
Bandpass Emission

 

 

 

 

FusionRed

Spectrum Chart

FusionRed Spectrum
Excitation () Emission ()
576 603

 

Recommended Filter Set

  • 일반 형광 Lighting source

Filter Model No. Excitation filter (㎚) Dichroic mirror (㎚) Emission filter (㎚) Remarks
JNO-R1(B) 560/40
(540~580)
600 (LP) 635/60
(605~665)
Wide Excitation band,
Bandpass Emission
49008 560/40
(540~580)
600 (LP) 630/75
(592.5~667.5)
Wide Excitation band,
Bandpass Emission
49017 560/40
(540~580)
590 (LP) 590 (LP) Wide Excitation band,
Bandpass Emission

 

  • 레이저 Lighting source 

Filter Model No. Excitation filter (㎚) Dichroic mirror (㎚) Emission filter (㎚) Remarks
49910 561/10
(556~566)
514 (LP) 630/70
(595~665)
For use with laser between 557~563

Narrow Excitation band,
Bandpass Emission

49911 594/10
(589~599)
594 (LP) 645/75
(607.5~682.5)
For use with laser 594

Narrow Excitation band,
Bandpass Emission

 

 

 

 

Eosin

Spectrum Chart

Eosin Spectrum
Excitation () Emission ()
524 545

 

Recommended Filter Set

  • 일반 형광 Lighting source

Filter Model No. Excitation filter (㎚) Dichroic mirror (㎚) Emission filter (㎚) Remarks
49023 480/40
(460~500)
510 (LP) 535/50
(510~560)
Wide Excitation band,
Bandpass Emission

 

  • 레이저 Lighting source -> 문의 주시기 바랍니다.

 

 

DyLight 549

Spectrum Chart

DyLight 549 Spectrum

 

Recommended Filter Set

  • 일반 형광 Lighting source 사용시

Filter Model No. Excitation filter (㎚) Dichroic mirror (㎚) Emission filter (㎚) Remarks
JNO-G(B) 540/25
(527.5~552.5)
565 (LP) 605/55
(577.5~632.5)
Narrow Excitation band,
Bandpass Emission
49004 545/25
(532.5~557.5)
565 (LP) 605/70
570~640)
Narrow Excitation band,
Bandpass Emission
49305 546/22
(535~557)
565 (LP) 590/33
(573.5~606.5)
Narrow Excitation band,
Bandpass Emission

 

  • 레이저 Lighting source 사용시

Filter Model No. Excitation filter (㎚) Dichroic mirror (㎚) Emission filter (㎚) Remarks
49907 532/10
(527~537)
532 (LP) 575/50
(550~600)
For use with laser between 529~535

Narrow Excitation band,
Bandpass Emission

49909 561/10
(556~566)
532 (LP) 600/50
(575~625)
For use with laser between 529~535

Narrow Excitation band,
Bandpass Emission

 

 

 

 

DiA

Spectrum Chart

DiA Spectrum
Excitation () Emission ()
456 591

 

Recommended Filter Set

  • 일반 형광 Lighting source

Filter Model No. Excitation filter (㎚) Dichroic mirror (㎚) Emission filter (㎚) Remarks
19010 480/30
(465~495)
505 (LP) 600 (LP) Medium Excitation band,
Longpass Emission
39009 480/30
(465~495)
505 (LP) 620/60
(590~650)
Medium Excitation band,
Bandpass Emission
49024 440/40
(420~460)
495 (LP) 630/75
(592.5~667.5)
Medium Excitation band,
Bandpass Emission

 

  • 레이저 Lighting source -> 문의 주시기 바랍니다.

 

 

 

 

 

Auramine

Spectrum Chart

 

Excitation () Emission ()
450 500

Recommended Filter Set

  • 일반 형광 Lighting source

Filter Model No. Excitation filter (㎚) Dichroic mirror (㎚) Emission filter (㎚) Remarks
19008 450/50
(425~475)
485 (LP) 495 (LP) Wide Excitation band,
Longpass Emission

 

  • 레이저 Lighting source -> 문의 주시기 바랍니다.

 

 

Abberior Star 520SXP

Spectrum Chart

Abberior Star 520SXP Spectrum
Excitation () Emission ()
520 633

 

Recommended Filter Set

  • 일반 형광 Lighting source 사용시 -> 문의 주시기 바랍니다.

 

  • 레이저 Lighting source 사용시 -> 문의 주시기 바랍니다.

 

 

MX63/MX63L

MX63 / MX63L

 

Streamline Your Large Sample Inspection Workflow

The MX63 and MX63L microscope systems are optimized for high-quality inspections of wafers as large as 300 mm, flat panel displays, circuit boards, and other large samples. Their modular design enables you to choose the components you need to tailor the system to your application.

These ergonomic and user-friendly microscopes help increase throughput while keeping inspectors comfortable while they do their work. Combined with OLYMPUS Stream image analysis software, your entire workflow, from observation to report creation, can be simplified.

 


Functional

 

Leading-Edge Analysis Tools

The MX63 series’ versatile observation capabilities provide clear, sharp images so users can reliably detect defects in their samples. New illumination techniques and image acquisition options within OLYMPUS Stream image analysis software give users more choices for evaluating their samples and documenting their findings.


The Invisible Becomes Visible: MIX Observation and acquisition

MIX observation technology produces unique observation images by combining darkfield with another observation method, such as brightfield, fluorescence, or polarization. MIX observation enables users to view defects that are difficult to see with conventional microscopes. The circular LED illuminator used for darkfield observation has a directional darkfield function where only one quadrant is illuminated at a given time. This reduces a sample’s halation and is useful for visualizing a sample’s surface texture.

Structure on semiconductor wafer

Condenser


Easily Create Panoramic Images: Instant MIA

With multiple image alignment (MIA), users can stitch images together quickly and easily simply by moving the KY knobs on the manual stage—a motorized stage is not necessary. OLYMPUS Stream software uses pattern recognition to generate a panoramic image, giving users a wider field of view.

Instant MIA image of a coin


Create all-in-focus images: EFI

The Extended Focus Imaging (EFI) function within OLYMPUS Stream captures images of samples whose height extends beyond the depth of focus of the objective and stacks them together to create one image that is all in focus. EFI can be executed with either a manual or motorized Z-axis and creates a height map for easy structure visualization. It is also possible to construct an EFI image while offline within Stream Desktop.

Stud bump on an IC chip


Capture Both Bright and Dark Areas Using HDR

Using advanced image processing, high dynamic range (HDR) adjusts for differences in brightness within an image to reduce glare. HDR improves the visual quality of digital images thereby helping to generate professional-looking reports.


From Basic Measurement to Advanced Analysis

Measurement is essential to quality and process control and inspection. With this in mind, even the entry-level OLYMPUS Stream software package includes a full menu of interactive measurement functions, with all measurement results saved with image files for further documentation. In addition, the OLYMPUS Stream Materials Solution offers an intuitive, workflow-oriented interface for complex image analysis. At the click of a button, image analysis tasks can be executed quickly and precisely. With a significant reduction in processing time for repeated tasks, operators can concentrate on the inspection at hand.


Efficient Report Creation

Creating a report can often take longer than capturing the image and taking the measurements. OLYMPUS Stream software provides intuitive report creation to repeatedly produce smart and sophisticated reports based on pre-defined templates. Editing is simple and reports can be exported to Microsoft Word or PowerPoint software. In addition, OLYMPUS Stream software’s reporting function enables digital zooming and magnification on acquired images. Report files are a reasonable size for easier data exchange by email.


Stand-Alone Camera Option

Using a DP22 or DP27 microscope camera, the MX63 series becomes an advanced stand-alone system. The cameras can be controlled via a compact box that requires only minimal space, helping users maximize their laboratory space while still capturing clear images and making basic measurements.


Advanced Designed to Support Cleanroom Conformity

The MX63 series is designed to work in a cleanroom and has features that help minimize the risk of contaminating or damaging samples. The system has an ergonomic design that helps keep users comfortable, even during prolonged use. The MX63 series complies with international specifications and standards, including SEMI S2/S8, CE, and UL.

Optional Wafer Loader Integration ― AL120 System*

An optional wafer loader can be attached to MX63 series to safely transfer both silicon and compound semiconductor wafers from a cassette to the microscope stage without using tweezers or wands. Renowned performance and reliability enable safe, efficient front and back macro inspections while the loader helps improve productivity in the laboratory.

MX63 combined with the AL120 wafer loader (200 mm version)

 


Fast, Clean Inspections

The MX63 series delivers contamination-free wafer inspections. All motorized components are housed in a shielded structure, and antistatic processing is applied to the microscope frame, tubes, breath shield, and other parts. The rotation speed of the motorized nosepieces is faster and safer than manual nosepieces, decreasing the time between inspections while keeping the operator’s hands below the wafer, reducing potential contamination.


System Design Achieving Efficient Observations

The XY stage is capable of both coarse and fine stage movements thanks to the combination of a built-in clutch and the XY knobs. The stage helps make observations efficient, even for large samples, such as 300 mm wafers.
The tilting observation tube’s extensive range enables operators to sit at the microscope in a comfortable posture.


System Design Achieving Efficient Observations

The XY stage is capable of both coarse and fine stage movements thanks to the combination of a built-in clutch and the XY knobs. The stage helps make observations efficient, even for large samples, such as 300 mm wafers.
The tilting observation tube’s extensive range enables operators to sit at the microscope in a comfortable posture.


Accepts All Wafer Sizes

Wafer holders and glass plates

The system works with various types of 150–200 mm and 200–300 mm wafer holders and glass plates. Should the size of the wafters change on the production line, the microscope’s frame can be modified at minimal cost. With the MX63 series, different stages can be used to accommodate 75 mm, 100 mm, 125 mm, and 150 mm wafers on the inspection line.


 

Stereo Microscopes

Stereo Microscopes
실체현미경

 

OLYMPUS SZX/SZ 시리즈 실체 현미경은 선명하고 입체적인 화면을 제공하며 편안하며 인체공학적인 디자인을 갖추었습니다. 다양한 어플리케이션에 따라 저배율부터 고배율에 이르기까지 다양한 바디와 광학기능의 선택이 자유롭습니다.


제품종류

 

SZX16
OLYMPUS SZX16은 900 line pair/mm 의 높은 분해능을 가지고 있어 고사양의 성능을 필요로 하는 어플리케이션에 사용될 수 있도록 제작되었습니다. 0.7x – 11.5x에 이르는 줌 배율과 듀얼터렛을 사용하여 2개의 대물렌즈를 사용하실 수 있습니다.


SZX10
OLYMPUS SZX10은 다양한 대물렌즈에 따라 초점거리(Working Distance)와 보이는 영역의 크기(Field Size)를 사용자의 필요에 따라 다양하게 선택하실 수 있으며, 왜곡현상없는 제품 혹은 샘플의 고유 색감을 그대로 관찰하실 수 있습니다.


SZX7
OLYMPUS SZX7은 7:1 의 줌 비율과 ESD(정전기방지), 발전된 Galilean 광학 시스템을 채택하였으며 경제적인 가격으로 높은 분해능과 다양한 편리성으로 누구나 손쉽게 사용하실 수 있습니다.


SZ61/51
OLYMPUS SZ61/51 은 다양한 Application에 적용할 수 있는 가격대비 성능이 우수한 경제적인 모델입니다. Greenough광학계로 뛰어난 초점심도를 가진 선명한 상을 보실 수 있으며 색 재현성 및 샤프한 이미지 재현성이 우수합니다.


 

 

BXWI

BXWI

Physiology Patch System

Physiology Patch System BX51WI (BX61WI)

BX51WI는 전기생리학 연구를 위해 태어난 특수 시스템 현미경입니다. BX51WI는 775nm와 990nm의 IR영역에서 수침렌즈를 통해한 이미지 구현이 가능하며, patch clamping 장비를 안정하게 장착 할 수 있습니다.
수침렌즈의 working distance는 patch 장비가 샘플에 접근하기 쉬운 각도와 거리로 제작 되어 있으므로 불편함 없이 실험을 진행할 수 있습니다.
또한 높은 해상력을 제공하므로 깨끗하고 선명한 이미지를 얻을 수 있습니다.

BX61WI는 BX51WI의 특징을 그대로 가져가면서 0.01µm 단위로 조절가능한 Z-축 모터가 내장이 되어 있습니다. 이 Z-축 모터는 컴퓨터나 리모콘을 이용하여 조절 하실 수 있습니다.
또한 BX61WI는 Olympus FV300/1000 confocal systems과 조합이 가능 합니다.

  • IR-DIC를 이용 brain slice를 관찰 할 수도 있으므로 뛰어난 작업환경을 제공 합니다.
  • 효율성을 최대로 살린 디자인은 특수한 렌즈와 집광기 그리고 탄탄한 광학계를 통해 실현 되었습니다.
  • 고정된 제물대, patch clamp 안정성을 위한 horizontal arm과 nosepiece focus. BX51WI는 Burleigh, Sutter, Narishige, Luigs, Neumann등의 장비와 쉽게 조합이 가능합니다.

  • 수침렌즈는 표면이 resin 코팅을 되어 있으며, 2-3.3mm의 작업 공간과 32-44°의 각도로의 pipette 접근이 쉽습니다.

  • 새로운 NA 0.95 WD 2.0mm의 XLUMPFL20x W/IR 렌즈는 샘플로의 접근 공간을 최대한 살려줍니다. Double Port Magnification Changer와 조합하면 렌즈 변환 없이 다양한 배율을 관찰 할 수 있습니다.
  • Long Working Distance Condenser : WI용 condenser는 0.8 NA, 샘플과의 거리 6mm의 스펙을 가지고 있습니다. 1position 또는 1/4 λ 회전이 가능한 5 position condenser를 장착할 수 있습니다.
  • WI 전용 condenser(0.8NA, WD 6mm)에 360°회전이 가능한 slit aperture를 이용하면 저렴한 비용으로 고대비의 이미지를 구현할 수 있습니다.
  • IR 광로 : IR filter는 연구자의 요구에 맞게 보정되었으며 특수 편광 장치를 사용함으로써 990nm의 파장도 사용이 가능합니다.
  • Macro fluorescence capability: Super-efficient large field fluorescence for voltage sensitive dye/membrane potential imaging with the low power 4x/NA 0.28 PLFL or 2x/NA 0.14 objectives
  • Double Port Magnification Changer : Dual port는 두 종류의 파장을 분리하여 얻도록 되어 있습니다. 즉, IR-DIC이미지와 일반형광이미지를 동시에 관찰할 수 있습니다. 장착된 magnification slider를 이용하면 렌즈 교환 없이 낮은 배율과 높은 배율의 이미지를 관찰할 수 있습니다.

Physiology Patch System BX51WI (BX61WI)

 

BX51WI 많은 다른 형태의 patch clamp 장비를 장착하여 사용하실 수 있습니다. (Burleigh, Narishige, Sutter, Luigs Neumann, Newport, 기타)

  • Burleigh Gibraltar Platform에 장착되어 있는 Burleigh Gibraltar Patch Clamp Workstation과 PCS 5000 piezo manipulator series를 BX51WI에 장착하면 2 x 2 slice에 접근이 가능한 patch clamp workstation을 만들 수 있습니다.
  • Olympus Ultrasonic Micromanipulator : 3축 ultrasonic manipulator는 25,000mm의 이동 영역을 가지며 미동 및 조동나사의 정확한 제어가 가능합니다. 전진, 후진 속도를 각각의 축에서 조절 할 수 있습니다 : 0.1mm 정확도로 전체의 영역을 옮겨 다닐 수 있습니다.


고정형 제물대와 초점 조절 nosepiece는 BX51WI에 일체화 되어 있어 patch clamping에 요구되는 안정성을 더해 줍니다.

  • 새로운 Long Working Distance XLUMPFL20x W/IR 렌즈는 NA 0.95 WD 2.0mm으로 최대의 작업 용이성을 제공해 줍니다. Double Port Magnification Changer와 조합하여 렌즈 변환 없이 저배율, 고배율관찰이 가능 해 졌습니다.
  • 개선된 앞쪽 조절 판은 부드러운 조작을 할 수 있도록 제작 되었습니다.

  • 현미경의 앞쪽에 조작 패널있기 때문에 초점 조절과 필터교환을 보다 편하게 할 수 있습니다. 또한 Senarmont DIC 액세서리를 사용하시면 manipulator와 샘플에 손이 닿지 못하기때문에 오염에 따른 실험적 오류를 방지할 수 있습니다.
  • 새로운 Arm Height Raising Kit은 제물대와 렌즈의 공간이 90mm이상이므로 쥐와 같은 동물을 올려놓고 관찰을 할 수 있습니다.
  • 새로운 swing&slide nosepiece는 렌즈변환 도중 공기방울 유입을 막아 주며 swing-only 또는 slide-only nosepiece 또한 사용가능 합니다. 모든 nosepiece 충격과 진동을 최소화 시키도록 하도록 디자인 되어 있습니다.
  • 2x, 4x Macro 형광 렌즈는 낮은 배율의 형광 관찰이 가능합니다. 수침보호 cap을 이용하면 perfusion media에 의한 수차현상을 방지 하실 수 있습니다.

 

MVX10

MVX10

Macro View System

MVX10

제품 소개
C-elegans, Zebrafish, drosophila, embryo, mouse 등의 형광 실험을 저 배율에서 수행하는 고객에게 최적화 된 장비입니다.

  • 재생산, 개발 용도
  • gene, protein 등의 기능 분석

MVX10 : 제품명

  • M : (Macro)
  • V : (View)
  • X : (Olympus Optics)
  • 10 : (Zoom ratio)

제품 특징

  • 가장 밝은 Fluorescence Macro Microscope
  • 고품질의 이미지에 중점을 두어 개발된 제품

시료의 물리적 조작이 주업무일 때 = SZX series
–Injection 작업을 위한 스테레오 이미지가 중점이 됨

물리적 조작 보다는 이미지 품질 및 시그널 검출이 중요할 때 = MVX10
–형광의 밝기와 해상력이 주요 강점

Spec.: MVX-ZB10

Zoom body

– Type: single zoom”@”iZoom ratio:10)
– Zoom magnification: 0.63x – 6.3x –Max. NA(1x Ob): 0.25 (Stereo: 0.125)
– AS: Built in
– Body mount: Dovetail (same as SZX)
– Tube mount: Dovetail same as BX
– Objective mount: M65 x 1.5 mm thread
– Nosepiece: Screw method (same as SZX)
– Body length: 211mm
– Zoom click stop: 0.63,0.8,1,1.25,1.6,2,2.5,3.2,4,5,6.3 (possible to release)
– Magnification display: zoom magnification (differ from SZX12 and SZX9)

Spec.: MVX-TTRS

uTilting Trinocular head for MVX
– Tilting and Trinocular design

» FN: 22 »BI angle: 0- 23 degree
» Interpupillary distance: 51 – 76mm
» Optical path: 2 position (BI/photo: 100/0 and 0/100)
» 3D-effect is available by pupil separation mechanism
» Erect Image

– Tube lens
» Tube magnification: 1x (tube lens f= 180mm)
» Tube mount: Dovetail same as BX
» Restriction with regular Trinocular

– TV adaptors
» TV adapter: MVX-TV1xC, ,MVX-TV 0.63xC ( exclusive use)
» No compatibility with UIS2 adaptors

– Internal magnification changer MVX-CA2X
» Detachable into MVX-TTRS

– Eyepiece: Use WHN series
» Diopter scale adjustment: none (with the eyepiece)

Spec.: MVX-RFA

Coaxial fluorescence illuminator
– Filter change: 4 position turret

3 mirror unit position + Blight field position
Mirror units: XL type (See next page)
– FS: Built-in, AS: none
– Slider : open/2filter position

32ND filters pocket
– Lamp house mount: Same as BX system
  Lamp house : 100W Mercury/75W Xenon
– Tube mount: Dovetail same as BX

  Excitation Emission Comment
U-MGFP/XL 460-490 510- Exist product for GFP/Long path
U-MGFPA/XL 460-490 510-550 Exist product for GFP/Band path
U-MCFPHQ/XL 425-445 460-510 New product for CFP/Band path
U-MCFPHQ/XL 460-480 495-540 New product for GFP/Band path
U-MYFPHQ/XL 490-500 515-560 New product for YFP/Band path
U-MRFPHQ/XL 535-555 570-625 New product for DsRED/Band path

Spec.: Objective lens

Spec.: Objective lens

MVX exclusive PF (Per-focal) objectives

Per-focal length: 137mm
Mount: M65 x 1.5 mm thread
End part external diameter: 60mm (Same as SZX)”iwith out MVPLAPO2XC”j
The MVPLAPO2XC equips with optical correction mechanism for live cell in the water
Two place nosepiece available : MVX-2RE

Name WD NA(Mono) NA(Stereo)
MVPLAPO 0.63X 87 0.15 0.078
MVPLAPO 1X 65 0.25 0.125
MVPLAPO 2XC 20 0.50 0.25